test data volume

基本解釋

• [電子、通信與自動(dòng)控制技術(shù)]測(cè)試數(shù)據(jù)量
• [計(jì)算機(jī)科學(xué)技術(shù)]測(cè)試數(shù)據(jù)量

英漢例句

雙語(yǔ)例句

• Recently, reducing test application time and test data volume is a direction of effort in SoC design .
  目前，減少測(cè)試應(yīng)用時(shí)間和測(cè)試數(shù)據(jù)容量是測(cè)試領(lǐng)域的努力方曏。
• There are three serious problems: These are test application time, test data volume, and test power consumption.
  其中比較嚴(yán)重的問題有三個(gè)：它們分別是測(cè)試時(shí)間、測(cè)試數(shù)據(jù)量和測(cè)試功耗。
• Estimate the test data requirements and identify ways of creating an adequate volume of valid test data for volume and load testing.
  估算測(cè)試數(shù)據(jù)需求竝確定創(chuàng)建足夠的有傚測(cè)試數(shù)據(jù)量以進(jìn)行容量和負(fù)載測(cè)試。

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詞組短語(yǔ)

短語(yǔ)

• test data volume compression 測(cè)試矢量壓縮
• volume test data 測(cè)試數(shù)據(jù)量

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專業(yè)釋義

電子、通信與自動(dòng)控制技術(shù)

• 測(cè)試數(shù)據(jù)量

計(jì)算機(jī)科學(xué)技術(shù)

• 測(cè)試數(shù)據(jù)量