wafer probe

基本解釋

• 晶圓探測

英漢例句

雙語例句

• MMIC on-wafer probe is the key part of MMIC on-wafer measurement system.
  MMIC在片測試探頭是MMIC在片測試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件。
• Can is equipped with a variety of different frequencies, different wafer size twin probe using;
  可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用；
• Studying various pretreatment for the probe image and applying the pixel threshold selection technique to distinguish the probe from wafer and adjust the measurement position automatically.
  研究了探針圖像的圖像增強和閾值選擇問題，識別探針并自動調(diào)節(jié)探針測試位置。

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詞組短語

短語

• Wafer Unit Probe 晶圓篩選檢測
• Wafer Parametric Probe 晶圓參數(shù)檢測
• Wafer Probe Test 測試
• Wafer Probe Card 晶圓探針卡
• Wafer Probe Station 探針臺;晶圓探針臺

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專業(yè)釋義

電子、通信與自動控制技術(shù)

• 晶圓測試探針